愛德萬推出太赫茲光譜與成像分析平台

精實新聞 2013-06-07 記者 羅毓嘉 報導

半導體測試設備龍頭愛德萬測試(Advantest, NYSE:ATE)持續卡位太赫茲(terahertz,兆兆赫茲)測試與分析技術，宣佈推出太赫茲光譜與成像分析平台。愛德萬指出，該平台將太赫茲光源與檢測器分離，並以光纖與主機連接，此一設計擴大了太赫茲測試應用的範圍，包括新材料分析、物理分析、乃至藥物分析等領域。

近年以來，太赫茲技術在測試、分析方面的能耐普遍獲得業界關注，由於物質對於太赫茲波段的不同頻率呈現相異的反射或吸收特性，適於以光譜分析和非侵入性的成像應用。

愛德萬測試自2010年4月首次推出太赫茲分析系統TAS7000以來，目前仍在太赫茲測試應用上處於領先地位，並已成功卡位藥學研究等領域。

愛德萬最新發表的太赫茲測試平台，是將太赫茲光源與檢測器分離，並以光纖與主機連接，使得被測區域可以任意靈活佈置，此一平臺也可以與其他實驗設備相連，支援其他應用太赫茲測試的研究項目。

事實上，最先進的太赫茲分析技術，結合了包括液氦低溫保持器（Cryostat）及加熱器等實驗設備，主要用於開發新材料並進行其物理分析，愛德萬也透過新平台與其他太赫茲檢測技術，鞏固其在科學實驗領域的領先地位。

愛德萬推出的最新測試平台，包括1組太赫茲光抽樣系統，3個太赫茲光源模組、以及1個檢測器模組。愛德萬預計於今年10月開始出貨這組測試平台，並應用於包括新材料分析、物理分析、乃至藥物分析等領域。