新浪科技訊北京時間5月16日晚間消息,惠普的科學家已經在下一代存儲技術,即“記憶電阻”方面取得小的突破。記憶電阻未來將可以取代當前普遍使用的閃存和dram技術。在發表于《納米技術》雜志的一篇論文中,惠普的科學家報告稱,他們已經了解記憶電阻在加電操作時的基本化學和結構變化。此前,盡管研究人員已經在實驗室中開發出了記憶電阻樣品,但科學家對于記憶電阻工作時的內部結構變化并不是完全清楚。(內文詳見新浪網)